【每週速報】半導體材料分析必備！《近代穿透式電子顯微鏡實務(第3版)》新書焦點
💡讀家焦點速覽：穿透式電子顯微鏡(TEM)是現代材料分析與半導體研發不可或缺的精密利器。本週的【讀家焦點｜⚡每週速報】為大家介紹一本即將新出版的重量級實務指南──由深耕TEM領域數十載的鮑忠興與劉思謙博士共同撰寫的《近代穿透式電子顯微鏡實務(第3版)》。
這本書將帶領讀者一窺奈米分析世界的奧妙，讓我們花3分鐘快速掌握這本第三版全新升級的核心亮點！
⚡3分鐘重點掃描：第三版核心亮點
亮點一：獨家收錄EELS與電腦輔助操作，領先中文教科書
- 本書的內容包含三點異於其他電鏡書籍的特色。
- 書中不僅以穿透式電鏡基本原理和材料分析實務為主，更介紹了近代加入個人電腦控制與輔助的穿透式電鏡的操作方法。
- 本書也介紹了二十一世紀後才開始在台灣半導體材料分析盛行的電子能量損失能譜術。
- 電腦輔助操作與電子能量損失能譜術這兩項主題，在台灣中文電鏡教科書中都還尚未被提及，極具獨家參考價值。
亮點二：融入20年軟硬體更新，影像與案例全面升級
- 第三版的內容仍以淺顯易懂為原則，並增添一些近廿年來，TEM主要軟硬體的更新。
- 新版內容除仍秉持以TEM/STEM實務為主外，基礎理論為輔，修飾部分文字上的準確性。
- 此次改版改換了更佳的圖像，並添加一些二位作者在材料分析累積的新案例。
亮點三：逾40年業界與學界第一線實務功力傳承
- 鮑忠興博士從事TEM材料分析工作四十年有餘，歷經工研院、聯電及各大奈米中心。
- 劉思謙博士目前任職於美國著名的電子顯微鏡實驗室，理海大學功能材料與元件中心，持續從事先進 TEM/STEM材料分析工作。
- 兩位作者將其TEM分析實務心得濃縮，取其精華，加以系統性彙整後編輯成此書。
🎯這本書適合誰？
- 穿透式電鏡初學者：
作者期望能將經年累月的心得傳播給TEM領域的後學者，減少後學者在TEM瀚海領域摸索的時間。內容設計可幫助入門者盡快登堂入室，享受TEM微妙的奈米分析世界。 - 材料分析工程師與研發人員：
本書的內容為TEM分析實務，可做為教育訓練材料。希冀讀者能從此版的內容中獲得更進一步的TEM/STEM技術，提升在半導體或材料產業的實戰力。
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